HAST（非飽和）高加速老化試驗箱更常用，這主要源于其測試效率、應用范圍、設備靈活性及行業趨勢的共同推動。以下是對兩者的具體分析：

1. 測試效率：HAST顯著縮短研發周期

PCT：測試時間通常為24~96小時，通過飽和蒸汽環境（100% RH）模擬惡劣濕熱條件，但加速因子較低，需更長時間暴露缺陷。

HAST：測試時間縮短至6~96小時，通過非飽和濕度（85%~100% RH）和更高溫度（105°C~150°C）實現更嚴苛的加速條件，加速因子更高。例如，HAST可在48小時內模擬電子產品在熱帶氣候下10年的使用情況，而PCT可能需要96小時以上。

優勢：HAST的快速測試能力使其成為研發階段，尤其適用于需要快速迭代的產品（如消費電子、汽車電子）。

2. 應用范圍：HAST覆蓋更廣的行業需求

PCT：主要用于評估密封性、吸濕失效和材料穩定性，常見于半導體封裝（JESD22-A102標準）、PCB（IPC-TM-650標準）等對濕氣敏感的場景。

HAST：除密封性測試外，還能模擬電遷移、腐蝕、絕緣劣化等復雜失效模式，覆蓋電子元器件、汽車零部件、航空航天設備、醫療器械等多領域。例如：

電子行業：測試手機、電腦等產品的耐候性；

汽車行業：評估車燈、傳感器在高溫高濕下的可靠性；

航空航天：驗證飛行器電子設備在惡劣環境下的穩定性；

新能源領域：測試太陽能板、風力發電機的長期穩定性。

優勢：HAST的多樣性和可調性（濕度、溫度、壓力范圍更廣）使其能滿足更多行業的實際需求。

3. 設備靈活性：HAST支持更復雜的測試場景

PCT：結構簡單，僅需維持飽和蒸汽環境，控制參數較少（溫度+壓力），但功能單一。

HAST：設備復雜度高，需精確控制非飽和濕度，可能配備濕度傳感器、干空氣注入系統、電偏壓功能（如THB試驗），支持更靈活的測試模式。例如：

模擬非飽和高溫高濕環境，更接近實際使用條件（如熱帶氣候）；

結合電偏壓測試，評估電化學失效（如金屬化腐蝕、導電陽極絲CAF）。

優勢：HAST的靈活性使其能應對更復雜的測試需求，成為全能型老化測試設備。

4. 行業趨勢：HAST逐漸成為主流選擇

標準支持：HAST已被納入JESD22-A110（半導體）、IEC 60068-2-66等國際標準，成為某些行業的標準測試方法（如PCB、半導體、太陽能板）。

成本效益：盡管HAST設備初期投資和維護成本較高，但其縮短的測試周期和綜合成本效益（如減少研發時間、提前發現缺陷）使其更具長期優勢。

市場需求：隨著電子產品向高密度、小型化發展，對可靠性的要求提高，HAST能更高效地暴露潛在問題，滿足市場對高質量產品的需求。