高溫高濕實(shí)驗箱價格執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》

GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)

技術(shù)參數(shù)：

低溫范圍可選：RT~0℃；RT~-20℃；RT~-40℃；RT~-60℃；RT~-70℃；如需高溫可選擇至150℃。

恒濕范圍可選：20%~98%（備注，此范圍為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)常用范圍，如有更低濕要求請業(yè)務(wù)確認(rèn)并加價做方案）

低溫溫波動度：±0.5℃

低溫溫度均勻度：±0.2℃

恒濕波動度：±2.0%RH

恒濕均勻度：±3.0%RH

低溫降溫時間：RT~0℃小于30分鐘；RT~-20℃小于40分鐘；RT~-40℃小于60分鐘；RT~-60℃小于90分鐘；RT~-70℃小于100分鐘。（約平均降溫每分鐘1℃滿足標(biāo)準(zhǔn)，有快速降溫要求的請業(yè)務(wù)做方案）

高溫高濕實(shí)驗箱價格主要用于測試工業(yè)產(chǎn)品在恒濕、恒高溫，恒低溫的不同氣候環(huán)境下的使用，運(yùn)輸和儲存時的性能試驗、實(shí)驗，主要用于對電工，電器、電子、光電產(chǎn)品，包括所有工業(yè)品的元器件，零部件，金屬材料及其在模擬濕熱、高溫，低溫的不同氣候條件下，對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行試驗，試驗測試后，通過檢定后的成果來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求或者標(biāo)準(zhǔn)，以便提供產(chǎn)品的改良，設(shè)計，生產(chǎn)，檢定及出廠檢驗使用。