可靠性高低溫沖擊檢測設備特別適用于半導體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導體電子器件材料結構在瞬間下經(jīng)溫及溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在Z短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內部結構不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產品放在提籃里，是隨提籃起移動的。
技術參數(shù)：
規(guī)格型號：AP-CJ-50/80/100/150/252/480
容量：50升、80升、100升、150升、252升、480升
內箱尺寸（寬*高*深）：400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750（MM）
外形尺寸（寬*高*深）：1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850（MM）
試驗溫度范圍：A表示：-40℃～+150℃
              B表示：-55℃～+150℃
              C表示：-65℃～+150℃
低溫槽溫度范圍：-55℃～-10℃、-70℃～-10℃、-80℃～-10℃
高溫槽溫度范圍：+60℃～+200℃，升溫速率平均5℃/MIN
溫度波動度：±2.0℃
溫度轉換時間：10S
溫度穩(wěn)定時間：5MIN，常溫～Z低溫度5MIN，常溫～高溫度5MIN
內箱材質：SUS304不銹鋼
外箱材質：SUS201紗面不銹鋼或電解鋼板噴塑處理
冷卻方式：水冷或風冷（可選擇）
冷凍系統(tǒng)：冷凍機組為復疊式，*法泰康壓縮機或*比澤爾壓縮機，R404A、R23A環(huán)保冷媒
高低溫冷熱沖擊試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等行業(yè)、航天、防工業(yè)、BGA、兵工業(yè)、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物理環(huán)境產出的化學變化或物理傷害，可確認各種產品的品質,從的IC到重機械的組件，不需要它,目此設備是工業(yè)產業(yè)共認的理想測試工具。
可靠性高低溫沖擊檢測設備的測控系統(tǒng)：
1.控制器：進口7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊
2.運行方式：程序方式
﹙1﹚控制對象 試驗區(qū)曝露溫度
高溫恒溫區(qū)預熱溫度
低溫恒溫區(qū)預熱溫度
低溫恒溫區(qū)除霜溫度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制
3.設定方式：中文菜單，觸摸屏方式輸入。
4.程序容量：100組程式，每個程序Z大3步；每個程序可設1000次循環(huán)，Z大循環(huán)設定9999cycles;