快速冷熱沖擊試驗(yàn)箱有三個試驗(yàn)空間，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)，也稱待測品不動式溫度沖擊試驗(yàn)箱，試樣放在測試箱內(nèi)進(jìn)行高低溫沖擊試驗(yàn)，模擬產(chǎn)品經(jīng)過溫度的急劇變化造成的物理變化。用于檢測根據(jù)元器件、部件及設(shè)備疲勞損傷引起的失效。
常規(guī)設(shè)備與參數(shù)：   
型號：AP-CJ-80C
溫度范圍： -65℃～+100℃(+150℃)
試驗(yàn)箱尺寸（W×H×D）mm：500×400×400
高溫槽尺寸（W×H×D）mm：400×400×400
低溫槽尺寸（W×H×D）mm：400×500×400
備注：更多移動式溫度沖擊試驗(yàn)箱尺寸選型可聯(lián)系我司愛佩業(yè)務(wù)部門。
樣品隔層架對試驗(yàn)物的承重量：2.5kg以內(nèi)，如有超重的測試物請下單時(shí)注明。
高溫上升時(shí)間約：40min
低溫下降時(shí)間約：80min
高溫槽溫度高可儲存至：60℃~200℃
低溫槽溫度低可儲存至：-70℃~-10℃
溫度移動沖擊時(shí)間在：10秒鐘內(nèi)
溫度沖擊恢復(fù)穩(wěn)定時(shí)間在：3~5分鐘內(nèi)
標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則；GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 3部分：高溫試驗(yàn)；GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 4部分：低溫試驗(yàn)；GJB 150.5A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 5部分：溫度沖擊試驗(yàn)GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)。
快速冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品特性
1、*的三箱式結(jié)構(gòu)，三個室體由氣動門隔離，避免樣品頻繁移動，更有利于試品做通電試驗(yàn)；
2、可分別做高溫、低溫、常溫、高低溫沖擊試驗(yàn)；
3、進(jìn)口制冷機(jī)組及電氣控制零配件，大大提高了設(shè)備運(yùn)行的可靠性；
4、風(fēng)門機(jī)構(gòu)切換時(shí)間為10秒內(nèi)完成，冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間為5分鐘內(nèi)完成；
5、高低溫沖擊試驗(yàn)箱采用觸控式彩色液晶顯示人機(jī)界面控制器，操作簡單、學(xué)習(xí)容易；
6、設(shè)備外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝先進(jìn)、高質(zhì)量高性能，電器配件進(jìn)口原件；
7、制冷系統(tǒng)采用復(fù)疊式制冷,快速,穩(wěn)定，省電型率壓縮機(jī)(采用*法泰康或德谷輪壓縮機(jī))；
8、蒸發(fā)器采用水浸查漏方法，模塊化制冷機(jī)組，查漏，確保設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行；
9、蓄熱區(qū)、蓄冷區(qū)采用多翼式循環(huán)風(fēng)扇,強(qiáng)制風(fēng)量對流,提高均勻溫度效果；
10、高均勻度的正壓式風(fēng)道系統(tǒng)，溫度均勻高。 用新的自動除霜技術(shù)，使除霜時(shí)間縮短；
11、安保護(hù)功能：電源過載保護(hù)、漏電保護(hù)、控制回路過載、短路保護(hù)、壓縮機(jī)保護(hù)、接地保護(hù)、超溫保護(hù)、報(bào)警聲訊提示等。